场发射电子显微镜SUPRA 40/40VP
SUPRA 40是一款高分辨率场发射扫描电子显微镜，拥有第三代GEMINI 镜筒，可变压强性能加上多种纳米工具的使用，不用花费大量时间，使高分辨率成像和非导体样本的分析成为可能，超大的样品室适合各种类型探头及配件的选择。该场发射电镜适用于材料领域、失效分析、过程控制
精工（Seiko）扫描探针显微镜
Nanocute: 基本型 S-image为多功能型 L-trace II为大样品台型 E-SWEEP型为可控环境型
场发射电子显微镜SUPRA 55 SAPPHIRE
SUPRA 55 SAPPHIRE是一款拥有第三代GEMINI镜筒的高性能场发射电子显微镜，它有独一无二的摆动缓冲系统，并结合了5轴驱动载物台，通过不断变换电压可以获得很高的分辨率。
原子力显微镜
AFM是SPM重要的发展。它控制一个微悬臂探针在样品表面进行逐行扫描，当探针在与样品非常接近时（小于1nm），由于两者间原子的相互作用力，使对微弱力极敏感的微悬臂发生偏转，再通过光杠杆作用将微小偏转放大，用四象限光电探测器检测，以获取样品表面形貌和其它物理、
高性价比扫描隧道显微镜
意大利国家凝聚态物理实验室。 低电流原子或分子的成像分辨率的STM。隧道电流可到500 fA，允许在高电阻测量软件系统。 STM还可适合原子力显微镜AFM的测量工具的选配。
扫描探针显微镜
SPM是一个大的种类，目前，SPM家族中已经产生了二三十种显微镜，如扫描隧道显微镜STM）、原子力显微镜（AFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、近场光学显微镜（SNOM）等等。 SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性，通过原子线度的极细探针在被
磁力显微镜/静电力显微镜
抬起模式：该工作模式分两个阶段,第一阶段与普通原子力显微镜形貌成像一样，在探针与样品间距1nm以内成像，然后，将探针抬起并一直保持相同距离，进行第二次扫描，该扫描过程可以对一些相对微弱但作用程较长的作用力进行检测，如磁力或静电力。 磁力显微镜（Mag